泰克科技公司成立于1946年,是世界第一台触发式示波器的发明者,作为一家全球领先的测试测量仪器及系统方案提供商,泰克推出的各种解决方案在过去的 75年间,为许多人类重大进步提供了强有力的支持, 涵盖汽车、医疗、通信和科研院校等众多领域。

泰克办事处遍布于 21 个国家和地区,致力于为即将创造未来的全球科学家、工程师和技术人员提供服务和支持。

泰克科技产品介绍

当前整个电源产业正发生着深刻的变革,以 SiC(碳化硅)、GaN(氮化镓)为代表的宽禁带半导体技术已经在众多行业中得到了广泛的应用,也给电源的开发测试工作带来了众多的挑战。

泰克科技始终密切跟踪最新技术的进展,通过和业内领军企业的密切合作来开发针对性的测试方案。基于其性能独特的光隔离探头以及示波器等产品,泰克为广大电源工程师们提供卓越的完整测试解决方案。

半导体功率器件动态特性测试系统

DPT1000A功率器件动态测试系统由泰克科技领衔开发,专门用于针对三代半导体功率器件的动态特性分析测试,旨在解决客户在功率器件动态特性表征中常见的疑难问题,包括如何设计高速工作的驱动电路,如何适配多种芯片封装形式,如何选择和连接探头进行信号测试,如何优化和抑制测试过程中的噪声和干扰。帮助客户在研发设计和试产阶段,快速评估器件性能,更快应对市场需求改善产品性能。

产品亮点

  • 定制化系统设计, 丰富的硬件配置和高灵活性的驱动电
  • 自动化测试软件,测试功能丰富, 可以自动配置参数,测试和生成数据报
  • 高带宽/高分辨率测试设备, 在高速开关条件下准确表征功率器
  • 覆盖高压、中压、低压、pmosGaN 等不同类型,不同封装芯片测
  • 可以提供单脉冲、双脉冲、反向恢复、Qg、短路测试、雪崩参数、RBSOA等测试功

动静态综合老化测试系

HTXB-1000D 动静态综合老化测试系统 针对以 SiC/GaN 为首的新型三代半导体 功率器件,根据其特有的器件结构和失效机理,在加速老化条件下,有针对性的 施加特定压力条件(包括静态压力和动 态压力),用以测试功率器件器件的漏流指标,以及其他典型特性参数(例如阈值 开启电压,导通电阻等关键指标),以表征器件的老化特性和工作寿命。

MSO 5B 系列混合信号示波器

MSO 5B 示波器具有支持手指开合、滑动和缩放操作的创新触摸屏用户界面、业内较大的高分辨率显示器以及 4、6 或 8 条 FlexChannelTM 输入通道,能够应对当前以及未来最严苛的应用挑战。它为性能、分析和整体用户体验设立了新的标准。

产品亮点

  • 15.6 英寸容性触摸屏
  • 12 位垂直分辨率
  • 8 通道 FlexChannel 技术
  • 高达 2GHz 带宽
  • 高达 500M 点记录长度

IsoVu 光隔离探头

IsoVu 第二代光隔离探头,将 Vgs 真实呈现。推动第三代半导体发展,为电源行业带来技术革新。解决上管 Vgs 无法测试问题, 优化驱动电压设计。

产品亮点

  • 多种带宽选择 -200MHz, 500MHz, 1GHz
  • 差分电压 ±2500V
  • 共模电压 60kV
  • 共模抑制比 160dB(100,000,000:1)

2450/2460/2461 图形源表

倍受信赖的精度、精度和性能

2450、2460 和 2461 基于吉时利 Model 2400 源表 SMU 仪器倍受信赖的模拟性能,提供了异常灵活的四象限电压和电流源 / 负载及精密电压表和电流表。这是吉时利屡获大奖的 SMU 家族的第四代成员,提供了用户一直对吉时利 SMU 仪器预期的杰出精度、分辨率、精度和可靠性。

产品亮点

  • 四象限设计,同时提供及测量电压、电流和电阻
  • 先进的 5 英寸触摸屏用户界面,支持多点卷动 - 掐住 - 缩放 - 滑动操作
  • 图形界面提供 I-V 示图功能
  • Model 2450 提供了更低的电流和电压测量范围 (100nA, 10nA, 20mV)
  • 高电流和高功率范围 (7A, 100W DC, Model  2460; 10A, 1000W Pulse, Model 2461)
  • 前面板香蕉插孔输入和后面板连接 (2450 上为三同轴连接器 , 2460/2461 上为接线螺钉 )
  • GPIB, LAN (LXI), USB 接口

艾邦智造将于2023年11月8日在深圳举办第二届功率半导体IGBT/SiC产业论坛,届时泰克有限责任公司 市场开发总监 孙川 将莅临现场给大家介绍《新型功率器件可靠性测试研究》,期待大家的与会交流。

 

嘉宾介绍:

孙川:泰克中国业务拓展经理,多年电子测试测量行业从业经验,参与开发多款泰克测试仪器和测试系统,目前主要负责泰克公司三代半导体测试方案开发和推广工作。

演讲大纲:

1、碳化硅可靠性问题和相关测试方法

2、氮化嫁可靠性问题和相关测试方法

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作者 808, ab