浮思特 | 全新碳化硅MOSFET封装技术提升电力模块性能

说到减少碳化硅MOSFET开关损耗,是完全有可能实现的,但要让电力模块在运行时保持高开关速度,那可不是一件轻松的事。

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我们得接受这个现实:电力模块从依赖硅IGBT技术转向碳化硅MOSFET技术的趋势是挡不住的。可问题是,硅IGBT那套行事方式里的一些老旧偏好,比如某些特定的形状因素,还在阻碍碳化硅的商业化步伐。因为这些老旧的设计往往会导致较高的寄生电感。幸好,三菱电机搞出了一种改良的NX封装,专门用于碳化硅MOSFET,里面还带有一套巧妙的母线结构。

硅IGBT的芯片技术已经发展到了一个瓶颈,新一代产品相比上一代的提升已经小巫见大巫了,也就是说,新产品已经越来越接近于材料物理极限了。

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宽禁带半导体像碳化硅MOSFET,它们提供了一个在整体半导体功率损耗上大幅度减少的机会。用碳化硅MOSFET来减损,一部分得益于降低开关损失的可能,同时提高开关频率。这样一来,过滤器组件可以做得更优,相应的损耗也能降下来,系统的总损耗也就跟着减少了。

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再说说挑战吧,碳化硅MOSFET封装要考虑的点可不少。

碳化硅MOSFET比硅IGBT开关得更快,减少开关损耗是有希望的。但要在电力模块实际运作时达到高开关速度,这里面有难度。

开关超调电压是个问题:MOSFET关断时的电压超调(∆VDS)其实就是电力模块封装里的寄生电感(Ls)和漏电流变化率(dID/dt)搞的鬼。封装内部的电感越大,允许的最大(dID/dt)就越低。

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还有内部电流平衡问题:电力模块能处理多大的电流,关键在于能有多少芯片在封装里并行。在静态和动态操作期间,保持芯片间漏电流的均匀分布至关重要。于是,设计师们就得巧妙设计电力模块的封装,确保每个芯片都能得到合理的电流平衡。

至于形状因素偏好和挑战,传统的650V、1200V或1700V级别的半桥硅IGBT模块,有的产品电流等级能达到好几百安培,它们普遍采用NX封装,这种设计在工业电力转换领域用了好几年。理想情况下,保持现有的电力模块形状因素(比如成熟的NX封装)是最好不过了。

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但是,传统的NX封装内部电感大概20nH,对于碳化硅来说不太行。再来,如上图,传统NX封装需要硅IGBT芯片沿着电力模块的长轴排列。这样芯片间的动态电流共享就不理想,这对想直接用碳化硅的设计师来说是个大难题。

但好在有适用于碳化硅的低电感NX封装。NX封装的内部格局已经为了适应碳化硅而做了改进,下图展示了改良后NX封装的内部剖面图。

DC+和DC-母线是“层压结构”,它们尽量贴近放置,还有绝缘层隔开,目的是最大化磁场互相抵消。而且DC+和DC-母线是直接粘到基板上,这样就避免了使用导线进行连接导致额外寄生电感的问题。

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与常规NX设计用硅IGBT不同,芯片不是沿模块长轴排列。工程师们还开发了一个优化的电路图样,目的是让不同芯片之间的电流分享更加理想。改良后的低电感NX模块测出来的内部电感只有9nH,比常规NX电力模块减少了大概47%的寄生电感。

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现在,NX碳化硅模块已经有1700V/600A (FMF600DXE-34BN)和1200V/600A (FMF600DXE-24BN) 的型号了。这两种设备都采用了半桥拓扑(2合1配置)。电力模块包括了陶瓷基板(AlN基板)并用硅胶进行封装。这些模块都是基于三菱第二代碳化硅芯片技术的。

性能基准测试, 咱们可以这么搞:

首先得掌握,我们用的这新版的碳化硅NX模块到底牛在哪儿。得比较一下改进前后的情况:改进的NX封装效果如何,和普通NX封装相比有啥区别。碳化硅MOSFET芯片技术本身,和以前的硅IGBT技术比起来,到底提升了多少。

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咱们看图7,对比一下关键的数据点——收集一下感应电压超调,比如碳化硅MOSFET的VDS (V)和IGBT的VCE (V),还有关断开关能量(Eoff [mJ/脉冲])。设定一下场景,比如电压1000V,电流600A,温度150°C,这样从图7里能得出点啥呢?

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对于常规NX封装来说,红线显示的是第七代1700V的硅IGBT和考虑普通NX封装(LS 大约是20nH)的1700V第二代碳化硅MOSFET的VCE (V)。用的是同一个包装,碳化硅MOSFET能减少关断损耗(Eoff),不过,电压超调就得小心点儿,别超出安全边际,否则会进入RBSOA(就是一个不太安全的操作区域)。

现在再看改进后的低电感NX封装,这回是蓝线显示的1700V碳化硅MOSFET的VDS。显而易见的是,RBSOA能保持在安全范围内,对Eoff也没啥影响。电感值LS=9nH的情况下,关断门电阻可以选得更低了。

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接下来聊聊第二个项目,如图它对比了第七代1700伏硅IGBT(就是常规NX封装的)和第二代碳化硅MOSFET(无论是传统的还是改进后的低电感NX封装)。

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咱们从图里可以得出的结论是,用上了这个新出炉的低电感SiC MOSFET,保持NX封装的外观不变,就能比硅IGBT模块减少72%的功率损耗。因此,开关频率得以提高5倍,这对滤波器来说简直就是个大优化。同时,最高结温也能保持在规定范围以下。

提高功率损失性能,这对于保持竞争力、给终端用户带来经济效益都至关重要。每推出新一代的硅IGBT,都是比上一代功率损失性能更强。但是,硅IGBT的发展快到头了,碳化硅MOSFET这块儿就越发吸引人眼球。

现在最后一个障碍,就是得让SiC的电力模块形状因子和硅IGBT的一样。三菱电机推出的这个升级版低电感NX封装和第二代SiC MOSFET,就是为了解决这个难题,充分满足各种电力转换的需求。

本文图片均来源于网

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深圳市浮思特科技有限公司 成立于2008年,位于深圳市南山区,是一家专业从事功率器件、半导体元器件供应和应用方案开发业务的企业,长期并将持续追求核心技术,曾被评选为深圳高新技术企业,广东省专精特新企业。公司长期专注4大产品线:新能源、电动汽车及充电桩、家用电器、触控显示,且均已有不同程度的方案沉淀,为客户提供从方案研发到选型采购的一站式服务。

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原文始发于微信公众号(浮思特无微不智):浮思特 | 全新碳化硅MOSFET封装技术提升电力模块性能

作者 liu, siyang

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