DOT800T 将一整套的功率测试解决方案整合到了单台设备之中，提供了在全范围功率应用中进行 ISO、AC、DC 测试所需的所有资源，从晶圆级到最终产品，均可轻松完成。
DOT800T 不但解决了传统硅电子器件的测试要求，也解决了氮化镓和氮化硅等新技术带来的测试要求，覆盖了这些产品的性能范围，包括最高电压和电流源，高频低电流测量等需求。
我们已经利用完整且精确的动态测试和静态测试以及隔离测试序列验证了该型产品在实际工作条件下的测试能力，能够充分检测确保各种器件的质量和可靠性。
所有这些，都集成在了一套高处理量、模块化且可配置的测试仪之中，这款测试仪专门针对批量生产环境中的测试需求而设计。
DOT800T
单套测试平台即可覆盖全范围功率应用
wafer
能够对晶圆级的功率器件进行完整测试，改善良品率，降低成本，为下一步的制造工序做好准备
KGD
能够对胶片框架中的单个芯片进行完整测试，验证已知合格芯片的性能
分立器件
能够对基于 Si / SiC / GaN 技术生产的各种分立器件进行完整测试
IPM
能够对智能功率模块的 IGBT 和驱动器组件进行完整测试
DBC
能够在模块装配之前对直接粘合的铜质基板进行完整的测试
IGBT
能够对已封装的 IGBT 模块进行实际工作条件下的完整测试
DOT800T
一套测试仪最多可匹配6个测试站
DOT800T
功率测试的最佳资源
DOT800T
测试资源
ISO测试资源
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高达 12kV/10mA DC -
高达 10kV/20mA AC -
高电压安全开关（带输出矩阵）用于限制放电电流，确保测试仪在任何情况下都保证安全
AC测试资源
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高达 6kV，高达3kA
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电流短路测试，高达10kA
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最多 8 个可独立编程的门驱动
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2 – 8 个多脉冲
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数字化仪的取样率可达10GS/s 取样率
DC测试资源
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中等功率V/I 资源（±100V、±2A，最高可达16A），配备 8 台驱动和 8 个数字化仪，各自完全浮动和互相独立
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高电压发生器发生能力高达20kV
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高电流发生器可发生高达4kA 脉冲电流，配有自动斜坡发生器，可缩短测试时间
DOT800T
低杂散电感设计
DOT800T
便捷的操作系统
测试程序生成和调试仅需不到 1 天
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无代码开发，利用软件自带库即可完成编程开发 -
提供绘图功能，用于视觉对比所测器件不同部分的波形结果（例如单相、3 相、多级 MOSFET 和 IGBT 等） -
自带数据获取记忆内存，用于对所有模块进行 V/I 监控 -
可编辑测试模型中的每一项参数 -
测试流程可‘随时按需’更改，无需重新编辑测试程序 -
使用方便，控制简单
DOT800T
执行测试类型
原文始发于微信公众号（SPEA1976）：SPEA - DOT800T 半导体功率测试仪
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